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JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍
※概述:
JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。
※ 测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦
※ 测量参数:
技术依据依据表:
参数值項 | 测试英文指标 | 测评因素制定 |
设置领域压降(VF) | 0-2.000V | 0-400MA |
耐压试验(BVCEO) | 0-1200V | 0-2.000MA |
接入比(CTR) | 0-3000 | VCE:0-20V IC:0-2.000A |
饱和点压降(Vsat) | 0-2.000V | IF:0-400MA IC:0-2.00A |
| 输出漏电流(Iceo) | 0-1mA | VCE=20V |
| 输入反向漏电流(IR) | 0-1mA | VR=4V |
电子邮箱：
公司地址：北京市通州区兴贸三街18号院19号楼1单元803
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