当前位置:##深圳qm品花阁 > 技术文章 > 磁学象限仪 类型:GX-I
水平目标
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盘度
读数值
分划板
标尺值
水平垂直程度
器标尺值
纵向技术
器刻线值
立场测
量範圍
角度看测
量的精密度
GX-I型光学元件象限仪
1°
1′
30˝/2mm
3˝/2mm
±120°
±30″
GX-II型光电象限仪
30˝
±15″
GX-10型光学薄膜象限仪
30′
20˝/2mm
±10″
电子邮箱:1350547381@qq.com
公司地址:北京市通州区兴贸三街18号院19号楼1单元803