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晶体管参数测试仪技术文章

更新时间:2024-02-13      点击次数:1057
多晶体管参数值检测仪能力好的文章

JFY3022A晶体管参数测试仪详细介绍
※概述:
JFY3022A晶体管参数测试仪,是一种**门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。
※             测量元件类型:
N型三*管,P型三*管,N型MOS场效应管,P型MOS场效应管N型结型场效应管,正负三端稳压IC,三端肖特基,基准器431,整流二*管,整流桥堆,可控硅,稳压二*管.
※             测量参数:
■ 整流二*管,三端肖特基,整流桥堆:


主要参数項

测验参数指标

试验经济条件设定

朝压降(VF)

0-2.000V

0-2.000A

耐冲击(VRR)

0-1500V

0-2.000MA


 

■N型三*管:


技术指标項

检查运作

测式條件制定

进入同向压降(VBE)

0-2.000V

0-2.000A

抗压(BVCEO)

0-1500V

0-2.000MA

放小数倍(HEF)

0-3000

VCE:0-20V IC:0-2.000A

饱和状态压降(Vsat)

0-2.000V

IB:0-2.00A IC:0-2.00A


■P型三*管:


因素項

测试方法技术指标

测评條件放置

插入双向压降(VBE)

0-2.000V

0-2.000A

耐冲击(BVCEO)

0-1500V

0-2.000MA

缩放因数(HEF)

0-3000

VCE:5.0V IB:100uA

过饱和压降(Vsat)

0-2.000V

IB:0-2.00A IC:0-2.00A


 

N,P型MOS场相互作用管:


参数值項

自测性能参数

检验状态使用

开机启动直流电压(VGS(th))

0-20.00V

0-2.000mA

耐压性(BVCEO)

0-1500V

0-2.000mA

导通电阻(Rson)

0.1Mr-200R

Vgs:0-20V Id:0-2.000A


单双项可以控制硅:


指标項

测试软件参数设置

测量要求设计

勾起功率(IGT)

0-40.MA

VD=0-20V,ID=0-2.000A

启用电压降(VGT)

0-2.000V

VD=0-20V,ID=0-2.000A

耐压试验(VDRM VRRM)

0-1500V

0-2.000mA

通态压降(VTM)

0-2.000V

IT:0-2.00A


三端稳压IC:


指标項

测试英文技术参数

软件测试能力设定

工作输出额定电压(Vo)

0-20.00V

Vin:0-20V Io:0-2.00A


系数IC 431:


性能指标項

测试英文数据

试验前提快速设置

所在电流(Vo)

0-20.00V

IZ:0-200mA


 

■ 稳压二*管:


技术指标項

考试技术指标

测试方法條件制定

稳压值(VZ)

0-20V

0-100MA

稳压值(VZ)

20-200V

0-2.000MA


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