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数字式四探针分析仪ST2253
论述
数字式四探针测试仪ST2253运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。
由主机电源、选择装配的四检测器红外探头、检查台还有PCapp软件等局部分解成。
数字式四探针分析仪ST2253 主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成,USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入;具有零位、满度自校功能;测试功能可自动/手动方式;仪器操作可由配套软件在PC机上操作完成,也可脱PC机由四探针仪器面板上独立操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示,也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印!
根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
自测台标配:般四探头法自测内阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型自测台。二探头法自测内阻率自测选SZT-K型自测台,也可标配SZT-D型自测台以自测半导粉丝内阻率,标配SZT-G型自测台自测橡塑材料内阻率。
具体情况见《四感应器设备、感应器和测式台的特殊性与选择型号借鉴》点击進入進入
检测仪器兼有侧量精密度较高、流畅度提高、不稳定量分析性好、自动化化度提高、侧量便捷、结构设计紧促、便用简单等优缺点。
分析仪器使广泛用于半导体器件技术器材材质厂器材厂、成果转化部门、职业技术专科院校对导体、半导体器件技术器材、类半导体器件技术器材材质的导电效能的测试软件。
三、基本技术参数
3.1 校正依据
电 阻:1×10-4~2×105 Ω ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω
电阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm
方 阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□
3.2 相关材料大小(由配选測試台和測試方试判断)
直 径:SZT-A圆测试英文方法台真接测试英文方法形式 Φ15~130mm,便携式形式不限
SZT-B/C/F方检查台同时检查方案180mm×180mm,拿着方案不限.
长(高)度:试验台直观试验途径 H≤100mm, 笔型途径不限.
估测周边所有地方: 支承、径向均可
3.3. 4-1/2 四位数字交流电压表:
(1)分度值: 20.00mV~2000mV
(2)粗差:±0.1%读数±2 字
3.4 数铣恒流源
(1)示值:0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100mA,1A
(2)误差率:±0.1%读数±2 字
3.5 四感应器感应器(加配其三或加配全部)
(1)增碳钨探头:Φ0.5mm,直线行驶探头行间距1.0mm,探头重压: 0~2kg 可以调整
(2)塑料膜方阻探头:Φ0.7mm,渐渐或正方形探头行距2.0mm,探头各种压力: 0~0.6kg 调节器
3.6. 主机电源
发送: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<20W
3.7.形态厚度:
主 机 220mm(长)×245 mm(宽)×100mm(高)
净 重:≤2.5kg
ZCQF气水分离器是用于工业含液系统中将气体和液体分离的设备,在现有气液分离器设备中,主要采用重力式和循环式分离器,他们靠重力的不同将气体和液体分离,由于现有技术只利用了介质的重力作用,因此其缺点是分离效率低,分离不*,设备体积和重量较大。新开发研制成功一种ZCQF气水分离器,吸取了传统气液分离器的优点,并将不足加以改进,从而达到高效率分离和*分离的目的。 ZCQF气水区分器来设计因素
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