数字式硅晶体少子寿命测试仪

数字式硅晶体少子寿命测试仪

型号：ZD-LT-100C
 

商品号：TC-002064

为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照国标GB/T1553及SEMI MF-1535用高频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。                                                       
      该设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次全国十多个单位巡回测试的考验，证明是一种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片进行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。

DZ-LT-100C有以下特点：
1、 可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面进行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管级硅单晶的少子寿命。
2、  可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。
3、配备软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。
4、配置两种波长的红外光源：
a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深≥500μm，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。
b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅≈30μm，但光强较强，有利于测量低阻太阳能级硅晶体。
5、测量范围宽广
测试仪可直接测量：
a、研磨或切割面：电阻率≥0.3Ω•㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。
b、抛光面：电阻率在0.3～0.01Ω•㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。
寿命可测范围     0.25μS—10ms

微波通信光电科技导载流子挽回年限试验仪 类型： WJ-100A 
 产品简介 
      WJ-100A型徽波微电子产品导载流子pp使用年限短测试图片仪是参照物半导体材料行业产品产品和产品集体SEMI规则MF1535-0707及规则GB/T 26068-2010设计的概念加工。从而我行业是徽波光反射性法规则草拟行业的一个。本产品用到徽波光反射性无玩微电子产品导衰减衡量技巧，适用性于重量为1mm之下的硅片、锂电片少量载流子使用年限短的衡量，保证无玩、高质量管理伤、金额现示的便捷衡量。使用年限短衡量可灵敏度地发生变化半导体材料行业产品高价属危害及缺点有着的环境，是半导体材料行业产品质量管理的最重要检则大型项目。 
      年限校正超范围：0.25μs-10ms；样机热敏电阻率低限>0.5Ω·cm。 
      读数的方法：数据直读。

产品名称：雨量计专业数据采集器 产品型号： CJ-1

降雨计靠谱数据库爬取器规格： CJ-1

 CJ-1型数据采集器，基于美国德州仪器公司的MSP430微型计算机设计，全部采用进口集成电路制造，功耗低、性能稳定。早期出厂的CJ-1采集器，有的使用已经过10年，依然*地运行良好。 
    CJ-1型数据采集器包括：雨量信号输入接口、CPU处理器、数据存储器、RS232通信接口等工作单元。从雨量计采集到的降雨数据，经过微机运算并储存，通过RS232数据转换后，用无线远程发送至服务器（外加GPRS无线模块）、或有线直接传递至本地电脑，提供雨量的实时监测、历时查询、预警报警等重要而有效的降雨量监控。 
    CJ-1型数据采集器允许两种电源输入：220V交流、或12V太阳能，用户可以根据自己所在地的电源情况选择。同时，它还内置了备用电池，当外界停电时，此备用电源可以提供72小时（三天）的工作电压，以确保雨量数据传输不间断。 
    性能指标： 
    1. 输入接口： 脉冲，分辨率0.1mm 
    2. 输出接口： RS232  ×2 个   
    3. 工作电压： 交流220V±10%    或  直流 12V（太阳能） 
    4. 功    耗： 0.5W             或 2.1W（外接GPRS模块） 
    5. 数据保存： 12个月（雨量数据） 
    6. 工作温度： -40℃～60℃   
    7. 外形尺寸： 383mm（宽）×251mm（高）×70mm（厚） 
    8. 重    量： 约 7.1Kg 

产品名称：静电接地夹(螺旋线长为8米) 产品型号：ZJ-SC-03

静电能地线夹(锥型线长为8米)  类型：ZJ-SC-03

1主要适用于槽车接地。
2传感型回路静电接地夹，可与电子设备连接 
3铸铝材质，整体防爆 
尺寸：160mm*90mm*45mm
螺旋线长为8米