数字式四探针测试仪 具体型号： ST2253

综述 

 运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。
 

应用： ST2253

    测量仪器整套成分：由主机设备、加装音响的四测量探针温度探头、测量台同时PC平台等这部分成分。

    主机结构重要由精密五金恒流源、拿高分辩率ADC、放入式片式机程序组建，USB数据通讯插孔。实验器材监控主机拥有因素场景人物风格的设定在、职能变为彻底用数据化化笔记本键盘和数码设备控制开关显示；有着零位、满度自校职能；测试软件职能可自然/手动挡的方式；实验器材实操可由配套工程app在PC飞机上实际操作方法成功成功完成，也可脱PC机由四检测器机器设备面板开关上独立性实际操作方法成功成功完成。测试仪导致信息由主机电源数码图文管可以直接体现 ，也可连机由app接口同部体现 、概述、手机截图和复印！
 

型號： ST2253

    探测器加装音响：依照与众不同产品属性要求，探测器会有好些款加装音响。有高耐磨表层无定形碳钨试验检测器探测器，以试验硅类半导体原材料器件、不锈钢、导电可塑料类等硬塑产品的内阻率/方阻；也会有圆柱状渡金铜合金用料试验检测器探测器，可测柔软性产品导电复合膜、不锈钢表层或复合膜、瓷器或钢化玻璃等底材上导电膜（ITO膜）或纳米技术表层等半导体原材料器件产品的内阻率/方阻。患上四接线鼻子试验卡具，还可对内阻器体内阻、不锈钢导体的低、中值内阻及其旋钮类接触到内阻实行測量。配探测器，也可试验蓄电池片等箔上涂覆电阻功率率方阻。
 

主要参数： ST2253

    測試測試台加配：应该四測試探针法測試測試电容率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型软件各种检测台。二各种检测探针法软件各种检测内阻率软件各种检测选SZT-K型软件各种检测台，也能加装SZT-D型软件各种检测台以软件各种检测半导咖啡豆内阻率，加装SZT-G型软件各种检测台软件各种检测橡塑建筑材料内阻率。

尺寸： ST2253

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    医疗仪器还具有測量高精性高、灵敏度性高、不稳性好、智力化程性高、測量操作简单、组成部分紧奏型、运行便等特征 。

    分析仪器应中用半导体器件技术材质材质厂配件厂、科技创新行业、高教本科大学对导体、半导体器件技术材质、类半导体器件技术材质材质的导电性能参数的考试。

具体型号： ST2253

三、基本技术参数
 

3.1  量测条件

     电  阻：1×10^-4～2×10⁵ Ω   ，分辨率：1×10^-5～1×10² Ω

    电阻率：1×10^-4～2×10⁵ Ω-cm，分辨率：1×10^-5～1×10² Ω-cm

    方  阻：5×10^-4～2×10⁵ Ω/□，分辨率：5×10^-5～1×10² Ω/□

3.2  的原材料规格尺寸(由加装测评台和测评的方式而定)

     直    径：SZT-A圆测试软件方法台可以直接测试软件方法方法英文 Φ15～130mm，拿着方法英文不限

    SZT-B/C/F方软件测验台直接的软件测验方试180mm×180mm，手拿方试不限.

    长(高)度：试验图片台直观试验图片行为方法 H≤100mm,    携便式行为方法不限.

    检测坐向: 轴径、径向均可

3.3.  4-1/2 六位数字线电压表：

    (1)满量程： 20.00mV～2000mV

   (2)随机误差：±0.1%读数±2 字

3.4 精机恒流源

    (1)分度值：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA，1A

   (2)随机误差：±0.1%读数±2 字

3.5 四测试探针红外探头（加装音响其八或加配任何）

    (1)氢氟酸处理钨检测器：Φ0.5mm，垂直检测器排距1.0mm，测试探针经济压力: 0～2kg 可控

   (2)塑料薄膜方阻探头：Φ0.7mm，虚线或方型探头边距2.0mm，探头有压力: 0～0.6kg 可调式

3.6. 主机电源

    輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W

3.7.形壮型号规格：

    主   机  220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高）

   净   重：≤2.5kg数字式四探针测试仪